AKCE: 6. 5. 2025 – 9. 5. 2025

Mezinárodní konference Technart

Cílem mezinárodní konference je představit a propagovat pokroky v analytických technikách aplikovaných na vědu o kulturním dědictví, včetně umění, archeologie a širší oblasti ochrany kulturního dědictví.

Mezinárodní konference Technart
Datum konání: 6. 5. 2025 – 9. 5. 2025
Místo konání: Congress Centre – Hotel Giò, Perugia, Itálie

Od svého prvního ročníku v roce 2007 v Lisabonu se konference konala ve městech, jako jsou Atény, Berlín, Amsterdam, Catania, Bilbao, Bruggy a nejnověji v roce 2023 v Lisabonu a to vždy jednou za dva roky.

Setkání, na němž se obvykle schází kolem 400 účastníků z celého světa, je příležitostí k výměně poznatků a zkušeností v oblasti špičkového výzkumu a inovativních přístupů v multidisciplinární a interdisciplinární oblasti vědeckých metodik pro studium povahy, vlastností a změn materiálů kulturního dědictví (včetně pigmentů, kamenů, kovů, skla, keramiky, proteinů, lipidů a dalších přírodních a syntetických organických materiálů) nebo pro ukládání a zpracování dat, případně také pro poznání a rozvoj standardů muzejní konzervace a restaurování.

Témata konference:

  • Metody a aplikace založené na rentgenovém záření (od přenosných systémů po rozsáhlá zařízení, 2D zobrazování v makro- a mikroměřítku, 3D mikrozobrazování a konfokální experimenty)
  • Synchrotron, iontový svazek a techniky a přístroje založené na neutronech
  • Molekulární spektroskopie (UV-Vis, FT-IR, Ramanova spektroskopie, od jednotlivých bodů po zobrazování v mikroměřítku)
  • Další analytické metody založené na laseru
  • Chromatografie a hmotnostní spektrometrie
  • Proteomika a genomika
  • Techniky magnetické rezonance
  • Optické a koherentní zobrazovací techniky
  • Makrohyperspektrální zobrazování a skenování
  • Dálkový průzkum
  • Digitální technologie, metodiky založené na datech a výpočetní nástroje (analýza velkých objemů dat, strojové učení, cloud computing, modelování, ….)
  • Monitorování procesů konzervování-restaurování

Více informací o konferenci: zde

Zdroj: mck.technicalmuseum.cz